Mikrostrukturelle Untersuchung

Feldemmissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)
Sigma 300 VP von Fa. Zeiss

• Beschleunigungsspannung von 0,02 kV – 30 kV
• Vergrößerung: Probenabhängig bis 1.000.000 x (bezogen auf Polaroid 545-Format)
• Detektoren: o Sekundärelektronen-Kammerdetektor (Everhart-Thornley)
  - InLens-Sekundärelektronendetektor
  - Sekundärelektronendetektor für veränderbaren Druck (VPSE-Detektor)
  - 5-Quadrant-Rückstreuelektronendetektor
• EDX-Detektor X-Max 80 mm^2 von Fa. Oxford mit Aztec Energy-Analysesoftware
• 500 N In-situ-Biegemodul, Fa. Kammrath & Weiss - STEM Konversionsdetektor
• Goldsputteranlage zur Beschichtung von nicht leitfähigen Strukturen

Lichtmikroskopie

Unterschiedliche Auflichtmikroskope stehen im Labor für Werkstoffprüfung zu Verfügung. Die anhand moderner Kameratechnik realisierten Aufnahmen können mit geeigneten Bildauswertungsprogrammen bearbeitet bzw. ausgewertet werden. Neben den üblichen Messmöglichkeiten bietet das Auswertungsprogramm die Möglichkeit Korngrößen- und Phasenanalyse durchzuführen.

Verfügbare Auflicht-Mikroskope:

• 2x Axioskop, Fa. Zeiss
• 1x Axiotech, Fa. Zeiss
• 1x Stereomikroskop Stemi, Fa. Zeiss
• 1x Digitales Mikroskop (Keyence VHX-600K)

Mikroskop-Software

• ims, Fa. Imagic
• Analysis, Fa. Olympus
  
  

Spektralanalyse

Funkenspektrometer Spectro Lab S, Fa. Spectro
Analysemöglichkeiten:

• Eisenbasislegierungen
• Aluminiumbasislegierungen
• Kupferbasislegierungen (Messing/Bronze)
• Zinnbasislegierungen
• Magnesiumbasislegierungen
• Titanbasislegierungen
• Zinkbasislegierungen
• Nickelbasislegierungen
• Bleibasislegierungen