Feldemmissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) Sigma 300 VP von Fa. Zeiss
Beschleunigungsspannung von 0,02 kV – 30 kV
Vergrößerung: Probenabhängig bis 1.000.000 x (bezogen auf Polaroid 545-Format)
Detektoren: o Sekundärelektronen-Kammerdetektor (Everhart-Thornley) - InLens-Sekundärelektronendetektor - Sekundärelektronendetektor für veränderbaren Druck (VPSE-Detektor) - 5-Quadrant-Rückstreuelektronendetektor
EDX-Detektor X-Max 80 mm^2 von Fa. Oxford mit Aztec Energy-Analysesoftware
500 N In-situ-Biegemodul, Fa. Kammrath & Weiss - STEM Konversionsdetektor
Goldsputteranlage zur Beschichtung von nicht leitfähigen Strukturen
Lichtmikroskopie
Unterschiedliche Auflichtmikroskope stehen im Labor für Werkstoffprüfung zu Verfügung. Die anhand moderner Kameratechnik realisierten Aufnahmen können mit geeigneten Bildauswertungsprogrammen bearbeitet bzw. ausgewertet werden. Neben den üblichen Messmöglichkeiten bietet das Auswertungsprogramm die Möglichkeit Korngrößen- und Phasenanalyse durchzuführen.